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dc.date.accessioned 2021-08-02T14:52:57Z
dc.date.available 2021-08-02T14:52:57Z
dc.date.issued 2011
dc.identifier.uri http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/121959
dc.description.abstract En este trabajo muestra la metodología empleada en la medición y caracterización de micro llaves MEMS para microondas, desarrollada en el laboratorio de caracterización de microdispositivos de la UNSAM. es
dc.format.extent 247-248 es
dc.language es es
dc.subject RF-MEMS es
dc.subject VNA es
dc.subject calibración Solt es
dc.subject Probe station es
dc.subject MicroLab es
dc.title Medición y análisis estadístico para la caracterización de RF-MEMS es
dc.type Objeto de conferencia es
sedici.identifier.isbn 978-950-34-0749-3 es
sedici.creator.person Bonaparte, Juan es
sedici.creator.person Sentoni, Guillermo es
sedici.creator.person Merletti, Gustavo es
sedici.subject.materias Ingeniería es
sedici.description.fulltext true es
mods.originInfo.place Centro de Técnicas Analógico-Digitales es
sedici.subtype Objeto de conferencia es
sedici.rights.license Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International (CC BY-NC-SA 4.0)
sedici.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
sedici.date.exposure 2011-09
sedici.relation.event II Congreso de Microelectrónica Aplicada (μEA 2011) (La Plata, 7 al 9 de septiembre de 2011) es
sedici.description.peerReview peer-review es
sedici.relation.bookTitle Libro de Memorias: II Congreso de Microelectrónica Aplicada 2011 es


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