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Verificación de las Curvas de Paschen y la Ley de Peek en microionizadores por descarga luminiscente

Pertenece al libro: Libro de Memorias: II Congreso de Microelectrónica Aplicada 2011
Tipo de documento: Objeto de conferencia

Resumen

En este trabajo analizamos el sistema de ionización por descarga luminiscente para su utilización como fuente de iones en un equipo de identificación de compuestos químicos tipo IMS. Se realizaron modelos de descarga corona implementados con tecnología MEMS (Sistemas Micro-electro Mecánicos). Se propone que en la escala micrométrica es posible mejorar rendimientos, confiabilidad y demandas operativas. Así se redujo la tensión de la fuente de alimentación a menos de 1kV.

Información general

Fecha de exposición: septiembre 2011
Fecha de publicación: 2011
Idioma del documento: Español
Evento: II Congreso de Microelectrónica Aplicada (μEA 2011) (La Plata, 7 al 9 de septiembre de 2011)
Institución de origen: Centro de Técnicas Analógico-Digitales
ISBN: 978-950-34-0749-3
Páginas: 235-237

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Creado el: 2 de agosto de 2021
Disponible en SEDICI desde: 2 de agosto de 2021
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