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dc.date.accessioned 2021-08-02T14:34:39Z
dc.date.available 2021-08-02T14:34:39Z
dc.date.issued 2011
dc.identifier.uri http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/121955
dc.description.abstract En este trabajo analizamos el sistema de ionización por descarga luminiscente para su utilización como fuente de iones en un equipo de identificación de compuestos químicos tipo IMS. Se realizaron modelos de descarga corona implementados con tecnología MEMS (Sistemas Micro-electro Mecánicos). Se propone que en la escala micrométrica es posible mejorar rendimientos, confiabilidad y demandas operativas. Así se redujo la tensión de la fuente de alimentación a menos de 1kV. es
dc.format.extent 235-237 es
dc.language es es
dc.subject Generación de iones es
dc.subject Movilidad es
dc.subject Ionización es
dc.subject Descarga glow es
dc.title Verificación de las Curvas de Paschen y la Ley de Peek en microionizadores por descarga luminiscente es
dc.type Objeto de conferencia es
sedici.identifier.isbn 978-950-34-0749-3 es
sedici.creator.person Ortiz, J. J. es
sedici.creator.person Nigri, C. es
sedici.creator.person Lasorsa, C. es
sedici.creator.person Rodriguez, D. es
sedici.creator.person Perillo, P. es
sedici.creator.person Boggio, N. es
sedici.creator.person Ortiz, Guillermo P. es
sedici.subject.materias Ingeniería es
sedici.description.fulltext true es
mods.originInfo.place Centro de Técnicas Analógico-Digitales es
sedici.subtype Objeto de conferencia es
sedici.rights.license Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International (CC BY-NC-SA 4.0)
sedici.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
sedici.date.exposure 2011-09
sedici.relation.event II Congreso de Microelectrónica Aplicada (μEA 2011) (La Plata, 7 al 9 de septiembre de 2011) es
sedici.description.peerReview peer-review es
sedici.relation.bookTitle Libro de Memorias: II Congreso de Microelectrónica Aplicada 2011 es


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